## Abstract Durch Schrägbestrahlung und Verwendung charakteristischer Strahlung kann man eine einkristalline dünne Schicht einer röntgenographischen Orientierungsbestimmung auf einem Substrat zugänglich machen. Bei definierter Bewegung von Schicht und Zählrohr sind die entsprechenden Lauereflexe ge
Haftfestigkeit dünner Schichten auf einem Substrat
✍ Scribed by Dr. H. G. Schneider; S. Meyer
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1967
- Tongue
- English
- Weight
- 212 KB
- Volume
- 2
- Category
- Article
- ISSN
- 0232-1300
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