Mffusionsprobleme beim Antang;swachstum dunner Schichten') Diffusion is a stochastic process. The known differential equation of diffusion theory is valid on assumptions which are not realized always at the beginning of thin film growth. Moreover the stochabtic processes of aggregation produce clust
Dotierung dünner VO2-Schichten
✍ Scribed by K.-D. Ufert; Dr. K. Steenbeck; Dr. R. Steinbeiss
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1977
- Tongue
- English
- Weight
- 410 KB
- Volume
- 12
- Category
- Article
- ISSN
- 0232-1300
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✦ Synopsis
Abstract
Es wird die Herstellung von VO~2~‐Schichten mit W‐ bzw. Al‐Dotierung mit der reaktiven Gleichstrom‐Sputtertechnik und mit nachfolgender Temperaturbehandlung beschrieben. Das Widerstands‐Temperatur‐Verhalten der Schichten wurde in Abhängigkeit von der Dotierungskonzentration und der Kristallitstruktur untersucht. Die Kristallitgröße hat wesentlichen Einfluß auf die elektrische Wirksamkeit der Dotierung.
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