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Bildungsbedingungen und Struktur dünner Bi1−xSbx-Schichten

✍ Scribed by Dr. I. Rechenberg

Publisher
John Wiley and Sons
Year
1974
Tongue
English
Weight
319 KB
Volume
9
Category
Article
ISSN
0232-1300

No coin nor oath required. For personal study only.

✦ Synopsis

Abstract

Dünne polykristalline Bi~1−x~Sb~x~‐Filme mit azimutaler Orientierung der Kristalle wurden durch die Flashtechnik und die Katodenzerstäubung abgeschieden. In Abhängigkeit von den Bildungsbedingungen wurde die Struktur dieser Filme analysiert. Die Strukturuntersuchungen wurden mit Hilfe der Transmissionselektronenmikroskopie, der Elektronenbeugung und der Elektronenstrahlmikroanalyse durchgeführt. Wenn man die Schichten nach ihrer Orientierung, der Qualität ihrer Oberfläche und der durchschnittlichen Kristallitgröße beurteilt, so ist die Flashaufdampftechnik der Katodenzerstäubung unter den hier gewählten experimentellen Bedingungen überlegen. Das Bi/Sb‐Verhältnis ändert sich nicht gegenüber dem Target bzw. Quellenmaterial während der Filmbildung.

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