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SPIE Proceedings [SPIE SPIE Photonics Europe - Brussels, Belgium (Monday 16 April 2012)] Optical Micro- and Nanometrology IV - Simple method for measuring bilayer system optical parameters

✍ Scribed by Nitiss, E.; Usans, R.; Rutkis, M.; Gorecki, Christophe; Asundi, Anand K.; Osten, Wolfgang

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