𝔖 Bobbio Scriptorium
✦   LIBER   ✦

Zur Realstruktur von hochdotierten Galliumarsenid-Einkristallen

✍ Scribed by Dr. B. Schumann


Publisher
John Wiley and Sons
Year
1976
Tongue
English
Weight
530 KB
Volume
11
Category
Article
ISSN
0232-1300

No coin nor oath required. For personal study only.

✦ Synopsis


Abstract

Es wird über weitere Realstrukturuntersuchungen (Ätzen, Kathodolumineszenz u. a.) an hochdotierten GaAs‐Einkristallen, gezogen nach dem Czochralski‐Verfahren mit Abdeckschmelze, berichtet. Die Korrelation des Auftretens der Zellenstruktur und von Züchtungsparametern wird diskutiert.


📜 SIMILAR VOLUMES


Röntgentopografische Untersuchungen an h
✍ Dr. B. Schumann; Doz. Dr. M. Schulz 📂 Article 📅 1974 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 837 KB

## Abstract Es wird über röntgentopografische Untersuchungen an hoch Sn‐dotierten GaAs‐Einkristallen, gezogen nach dem Czochralski‐Verfahren mit Abdeckschmelze, berichtet. Die röntgentopografische Abbildung von spezifischen Defekten, verbunden mit einem inhomogenen Dotierungseinbau durch konstituti

Zur Realstruktur von Ga1–xInxAs LPE-Schi
✍ Prof. Dr. E. Butter; Dr. B. Jacobs; Dr. H. Krämer; Dr. W. Schmidt; J. Stary; Dr. 📂 Article 📅 1975 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 459 KB

## Abstract Ga~1–x~In~x~As‐Epitaxieschichten (0,02 < × < 0,12) auf (111)‐orientierten GaAs‐Substraten wurden aus nichtstöchiometrischen Schmelzen erhalten. – Die aus Strukturätzungen ermittelten Versetzungsdichten lagen zwischen 2 · 10^5^ cm^−2^ und 3 · 10^7^ cm^−2^, in Abhängigkeit von der Zusamme

Untersuchungen zur Wärmeleitfähigkeit vo
✍ Dr. N. Wagner; Prof. Dr. O. Brümmer; H. R. Pietzsch 📂 Article 📅 1974 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 623 KB

## Abstract Für Bi~__x__~Sb~1−__x__~‐Legierungen werden theoretisch ermittelten Werten der Wärmeleitfähigkeit experimentelle Resultate gegenübergestellt. Es erfolgt eine Analyse der elektronischen Anteile und der Gitterwärmeleitfähigkeit in Abhängigkeit von der Sb‐Konzentration im Bereich 0 ⩽ (1−__

Ein Gerätesystem zur röntgenographischen
✍ G. Filscher; F. Adolph; L. Adler 📂 Article 📅 1974 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 359 KB

## Abstract Das zweistufige Gerätesystem zur Kristallorientierung besteht aus einer Laue‐Kamera mit Röntgenbildwandler und einem Röntgendiffraktometer. Über eine Bezugsfläche am Kristall werden die röntgenographisch ermittelten kristallographischen Richtungen optisch an den Kristall angeschlossen.