Zum elektronen-interferometrischen Nachweis von Gitterfehlern in Einkristallen
✍ Scribed by O. Rang; H. Poppa
- Publisher
- Springer
- Year
- 1958
- Tongue
- English
- Weight
- 504 KB
- Volume
- 45
- Category
- Article
- ISSN
- 0028-1042
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## Abstract Es wird über TEM‐Untersuchungen von Gitterfehlern in ZnSiP~2~‐Einkristallen berichtet. Nach dem Kristallwachstum wurden Versetzungen oder Stapelfehler nur gelegentlich gefunden. Zwillinge traten häufiger auf. Die kristallographischen Elemente der Zwillingsbildung lauten {112} 〈111〉. Na
## Abstract Nach einer mehrstündigen Wärmebehandlung von versetzungsfreien sauerstoffreichen Czochralski‐Si‐Einkristallen bei 1000°C lassen sich mittels Sirtl‐Ätzmittel züchtungsbedingte Inhomogenitäten anätzen. Es wird gezeigt, daß die Ausbildung dieser Kristallbaufehler durch Wärmebehandlung in e