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TEM-Untersuchungen von Gitterfehlern in ZnSiP2-Einkristallen

✍ Scribed by Dipl.-Ing. M. Pasemann; Dr.-Ing. P. Klimanek

Publisher
John Wiley and Sons
Year
1973
Tongue
English
Weight
770 KB
Volume
8
Category
Article
ISSN
0232-1300

No coin nor oath required. For personal study only.

✦ Synopsis

Abstract

Es wird über TEM‐Untersuchungen von Gitterfehlern in ZnSiP~2~‐Einkristallen berichtet. Nach dem Kristallwachstum wurden Versetzungen oder Stapelfehler nur gelegentlich gefunden. Zwillinge traten häufiger auf. Die kristallographischen Elemente der Zwillingsbildung lauten {112} 〈111〉.

Nach einer plastischen Biegeverformung bei 900 °C wurden örtlich Versetzungskonfigurationen mit hoher Defektdichte (N~v~ ≈ 10^6^…︁ 10^7^ cm^−2^) beobachtet. Anhand des Beugungskontrastes konnte ein Burgersvektor b = 1/2 〈111〉 identifiziert werden. In manchen Fällen enthielten die Kristalle auch ausgedehnte Deformationsstapelfehler, die von Teilversetzungen begrenzt waren. Die Zwillingsdichte erhöhte sich unter den gewählten Verformungsbedingungen nicht.

Aus Untersuchungen von Oettel et. al. und den Ergebnissen der Zwillingsanalyse kann geschlossen werden, daß die Gleitung und die Stapelfehlerbildung im ZnSiP~2~ {112}‐Ebenen stattfinden. Zu beiden Vorgängen werden kristallographische Überlegungen angestellt.

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