## Rontgentopographie von gekriimmten Halbleiterscheiben I n der vorliegenden Arbeit wird ein uberblick uber rontgentopographische Methoden zur Untersuchung von Halbleitermaterialien gegeben. Speziell wird auf die SO-Technik eingegangen und die Apparatur einer Anwendungsvariante vorgestellt. An Ha
✦ LIBER ✦
Tauchtechniken für automatisierte Ultraschallprüfung von gekrümmten Teilen
✍ Scribed by Jenifer E. Michaels; Thomas E. Michaels
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1995
- Tongue
- English
- Weight
- 446 KB
- Volume
- 26
- Category
- Article
- ISSN
- 0933-5137
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