Fourier analysis of the diffraction profiles obtained from spectrographically pure tantalum filings gave the following dimensions for the coherently reflecting domains: 170 A and 100 A for a hydrogen-free sample in the [ 1101 and [IO01 directions respectively, and 160 '4 and 95 .A for a sample containing 6.5 atomic per cent hydrogen. The influence of t,he dissolved hydrogen on the line profiles is discussed. The variation of the r.m.s. displacement vith distance suggests a nonuniform distribution of hydrogen in the crystal lattice. ANALYSE DE FOURIER DES PROFILS DE RAIES DE DIFFRACTION DES RAYONS X OBTENUES SUR DES LIMAILLES DE TANTALE L'analyse de Fourier des profils de raies de diffraction obtenuos 8. partir de limailles de tantale speetrographiquemont pur ont fourni les dimensions suivantes pour les domaines eoherents: 170.4 et 100 A pour un eehantillon exempt d'hydrogene, dans les directions respectives [ 11 O] et [IO0 /, et. 160 p\ et 95 A pour un ~c~~ntillon cont#enant 65ge d'hydrogene. L'influence de l'hydrogene dissous sur les profils de raies est disc&&e. La variation de la moyenne des car&s reduite awe 15 distance suggere une distribution non umiforme de l'hgdrogkne dans le reseau cristallin. FOURJER ARALYSE DER RONTGENREFLEXE VON TANTAL FEILSP_4NEN Die Fourier Analyse der Rontgenreflexe van spektroskopisch reinen Tantal FeilspZinon ergab die folgenden Grossen fur die koharent streuenden Bereiche: Fur sin Wasserstoff freies Praperat 170 A in der [llO] Richtung und 160 A in der [IOO] Richtung, fur ein Priipcrat, welehes 65 Atomprozente Wasserstoff enthalt, 160 A und 95 A. Der Einfluss des gel&&en Wasserstoffs auf die Linienformon wird besprochen. Die Verandsrung der Wureet aus dam mittleren Verschiebungsquadrat mit der Entfernung deuted darauf hin, dass der Wasserstoff un~leichf~rmig im Krist,allgitter verteilt ist.