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Elektronenmikroskopische Oberflächen- und Durchstrahlungsuntersuchungen von Eisen-Einkristallen sowie der Einfluß der Orientierung auf deren Verfestigungsverhalten

✍ Scribed by H. Bilger

Publisher
John Wiley and Sons
Year
1966
Tongue
English
Weight
829 KB
Volume
18
Category
Article
ISSN
0370-1972

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## Abstract Es wurden potentiostatisch in 1N H~2~SO~4~ erzeugte bzw. einer Ausschaltaktivierung unterworfene Passivschichten von reinen FeCr‐Legierungen mit 7 bzw. 11% Chrom sowie solchen mit je 1% Kupfer mit XPS‐Analyse und XPS‐Drehwinkelexperimenten untersucht. Nach einstündiger Passivierung wurd