Zum Einfluß des Oberflächenpotentials auf die Frequenzdispersion der Admittanz von GaAs-MIS-Teststrukturen sowie der Gatekapazität und Steilheit von MESFETs I. SiNx-Passivierung und Teststrukturen

✍ Scribed by Kaden, G.

• Publisher: John Wiley and Sons
• Year: 1990
• Tongue: English
• Weight: 617 KB
• Volume: 120
• Category: Article
• ISSN: 0031-8965
• DOI: 10.1002/pssa.2211200242