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Über eine Methode zum Nachweis von Atomtrümmern mittels Doppelionisationskammer

✍ Scribed by B. Zipprich

Publisher
Springer
Year
1935
Tongue
English
Weight
369 KB
Volume
23
Category
Article
ISSN
0028-1042

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## Abstract Das Prinzip des optischen Schneidenverfahrens wird zur qualitativen und quantitativen Beurteilung polierter Einkristallscheiben angewendet. Es lassen sich mit Hilfe einfacher überlegungen Hinweise auf die Art der Fehler bzw. eine Abschätzung der Höhenunterschiede ermitteln. Für den Eins