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Über eine optische Methode zum qualitativen und quantitativen Nachweis von Oberflächenfehlern

✍ Scribed by Dr. R. Baehr; H. Seyfarth

Publisher
John Wiley and Sons
Year
1974
Tongue
English
Weight
430 KB
Volume
9
Category
Article
ISSN
0232-1300

No coin nor oath required. For personal study only.

✦ Synopsis

Abstract

Das Prinzip des optischen Schneidenverfahrens wird zur qualitativen und quantitativen Beurteilung polierter Einkristallscheiben angewendet. Es lassen sich mit Hilfe einfacher überlegungen Hinweise auf die Art der Fehler bzw. eine Abschätzung der Höhenunterschiede ermitteln. Für den Einsatz dieses Verfahrens in der Produktionskontrolle werden Bedingungen für eine konstruktive Lösung genannt, die eine routinemäßige Prüfung polierter Oberflächen gestatten.

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