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Untersuchung zur Elektronenstruktur d�nner Schichten f�r ein einfaches Modellpotential

✍ Scribed by Schulte, F. K. ;Bross, H.

Publisher: Springer-Verlag
Year: 1969
Weight: 869 KB
Volume: 224
Category: Article
ISSN: 0044-3328
DOI: 10.1007/bf01392247

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## Abstract Durch Schrägbestrahlung und Verwendung charakteristischer Strahlung kann man eine einkristalline dünne Schicht einer röntgenographischen Orientierungsbestimmung auf einem Substrat zugänglich machen. Bei definierter Bewegung von Schicht und Zählrohr sind die entsprechenden Lauereflexe ge