The silicon vertex detector for the super B factory

✍ Scribed by T. Tsuboyama; R. Abe; T. Abe; H. Aihara; Y. Asano; T. Aso; A. Bakich; T. Browder; M.C. Chang; Y. Chao; K.F. Chen; S. Chidzik; J. Dalseno; R. Dowd; J. Dragic; C.W. Everton; R. Fernholzq; M. Friedl; H. Fujii; Z.W. Gao; A. Gordon; Y.N. Guo; J. Haba; K. Hara; T. Hara; Y. Harada; T. Haruyama; K. Hasuko; K. Hayashi; M. Hazumi; E.M. Heenan; T. Higuchi; H. Hirai; N. Hitomi; A. Igarashi; Y. Igarashi; H. Ikeda; H. Ishino; K. Itoh; S. Iwaida; J. Kaneko; P. Kapusta; R. Karawatzki; K. Kasami; H. Kawai; T. Kawasaki; A. Kibayashi; S. Koike; S. Korpar; P. Križan; H. Kurashiro; A. Kusaka; T. Lesiak; A. Limosani; W.C. Lin; D. Marlow; H. Matsumoto; Y. Mikami; H. Miyake; G.R. Moloney; T. Mori; T. Nakadaira; Y. Nakano; Z. Natkaniec; S. Nozaki; R. Ohkubo; F. Ohno; S. Okuno; Y. Onuki; W. Ostrowicz; H. Ozaki; L. Peak; M. Pernicka; M. Rosen; M. Rozanska; N. Sato; S. Schmid; T. Shibata; R. Stamen; S. Stanič; H. Steininger; K. Sumisawa; J. Suzuki; H. Tajima; O. Tajima; K. Takahashi; F. Takasaki; N. Tamura; M. Tanaka; G.N. Taylor; H. Terazaki; T. Tomura; K. Trabelsi; W. Trischuk; K. Uchida; K. Ueno; K. Ueno; N. Uozaki; Y. Ushiroda; S. Vahsen; G. Varner; K. Varvell; Y.S. Velikzhanin; C.C. Wang; M.Z. Wang; M. Watanabe; Y. Watanabe; Y. Yamada; H. Yamamoto; Y. Yamashita; Y. Yamashita; M. Yamauchi; H. Yanai; R. Yang; Y. Yasu; M. Yokoyama; T. Ziegler; D. Žontar

• Publisher: Elsevier Science
• Year: 2005
• Tongue: English
• Weight: 368 KB
• Volume: 541
• Category: Article
• ISSN: 0168-9002
• DOI: 10.1016/j.nima.2005.01.084