Silicon vertex detector for the KEK Super B factory

✍ Scribed by T. Tsuboyama; H. Aihara; T. Arakawa; Y. Asano; T. Aso; A. Bakich; M. Barbero; T. Browder; M.C. Chang; Y. Chao; K.F. Chen; S. Chidzik; A. Chouvikov; Y.K. Choi; A. Das; J. Dalseno; S. Fratina; M. Friedl; Y. Fujiyama; J. Haba; K. Hara; T. Hara; B. Harrop; K. Hayashi; M. Hazumi; D. Heffernan; T. Higuchi; T. Hirakawa; C. Irmler; H. Ishino; N.K. Joshi; S. Kajiwara; H. Kakuno; T. Kameshima; T. Kawasaki; A. Kibayashi; Y.J. Kim; S. Koike; S. Korpar; P. Križan; H. Kurashiro; A. Kusaka; D. Marlow; H. Miyake; G.R. Moloney; Y. Nakahama; Z. Natkaniec; S. Okuno; S. Ono; W. Ostrowicz; H. Ozaki; L. Peak; M. Pernicka; M. Rosen; M. Rozanska; N. Sato; S. Schmid; J. Schümann; S. Stanič; H. Steininger; K. Sumisawa; O. Tajima; T. Takahashi; N. Tamura; M. Tanaka; N. Tani; G.N. Taylor; K. Trabelsi; K. Uchida; K. Ueno; Y. Ushiroda; G. Varner; K. Varvell; Y.S. Velikzhanin; C.C. Wang; M.Z. Wang; M. Watanabe; Y. Watanabe; H. Yamamoto; Y. Yamashita; T. Ziegler

• Publisher: Elsevier Science
• Year: 2007
• Tongue: English
• Weight: 286 KB
• Volume: 572
• Category: Article
• ISSN: 0168-9002
• DOI: 10.1016/j.nima.2006.10.308