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same for all film thicknesses (ranging from 270 A for the thinnest to 405OA for the thickest). At 450ยฐC the decrease in film thickness was found to be linear for times up to 30 hours. Such a dependence was assumed to apply to other temperatures as well. The data for a range of temperatures are show
The study of multiple reflections with the aid of a microfocus X-ray source. A. R. LANG. The crystal structure of the metallic phase Mg,, (Al, Zn),,. GUNNAR BERQMAN, JOHN L. T. WAVGH, and LINUS PAVLINO. Dispositif permettant l'etude aux rayons X par reflexion de la diffusion au Voisinage des Noeuds