Performance on test beam of the L3 double-sided silicon microstrip detector

✍ Scribed by A. Adam; O. Adriani; S. Ahlen; G. Ambrosi; E. Babucci; A. Baschirotto; R. Battiston; A. Bay; Gy.L. Bencze; B. Bertucci; M. Biasini; G.M. Bilei; G.J. Bobbink; M. Bosetti; M.L. Brooks; J. Busenitz; W.J. Burger; C. Camps; M. Caria; G. Castellini; B. Checcucci; A. Chen; T.E. Coan; V. Commichau; D. DiBitonto; P. Duinker; S. Easo; P. Extermann; E. Fiandrini; A. Gougas; K. Hangarter; C. Hauviller; A. Herve; G. Hu; I. Josa; J.S. Kapustinski; D. Kim; W.W. Kinnison; V.R. Krastev; G. Landi; M. Lebeau; P. Lecomte; D.M. Lee; R. Leiste; W.T. Lin; W. Lohmann; A. Marin; R. Massetti; G.B. Mills; H. Nowak; G. Passaleva; T. Paul; M. Pauluzzi; S. Pensotti; E. Perrin; P.G. Rancoita; M. Rattaggi; A. Rosch; A. Santocchia; M. Sachwitz; P. Schmitz; B. Schöneich; L. Servoli; G. Susinno; G. Terzi; F. Tonisch; J. Toth; G. Trowitzsch; G.M. Viertel; H. Vogt; S. Waldmeier; J. Wegmann; R. Weill; S.C. Yeh; B. Zhou

• Publisher: Elsevier Science
• Year: 1994
• Tongue: English
• Weight: 286 KB
• Volume: 348
• Category: Article
• ISSN: 0168-9002
• DOI: 10.1016/0168-9002(94)90775-7