Elektronenmikroskopische Untersuchung von Transversalschnitten d�nner Schichten auf festen Unterlagen

Eine Methode zur röntgenographischen Ori

Eine Methode zur röntgenographischen Orientierungsbestimmung dünner einkristalliner Schichten auf einem Substrat, angewandt bei der Untersuchung von Tantal auf Saphir

✍ Dr. S. Meyer; Prof. Dr. habil. H. G. Schneider 📂 Article 📅 1973 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 287 KB

## Abstract Durch Schrägbestrahlung und Verwendung charakteristischer Strahlung kann man eine einkristalline dünne Schicht einer röntgenographischen Orientierungsbestimmung auf einem Substrat zugänglich machen. Bei definierter Bewegung von Schicht und Zählrohr sind die entsprechenden Lauereflexe ge