Eine Elektronenstrahltechnologie zur Herstellung dünner Schichten hoher Reinheit
✍ Scribed by Dr. E. Seidowski; Dipl.- Ing. V. L. Laska; Doz. Dr. V. P. Ledovskoj; Dipl.- Ing. H. M. Leont'eva; Doz. Dr. M. Tierok
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1976
- Tongue
- English
- Weight
- 455 KB
- Volume
- 11
- Category
- Article
- ISSN
- 0232-1300
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## Abstract Es wird die Kristallitverkippung von texturierten dünnen Schichten quantitativ aus Reflexionselektronenbeugungsdiagrammen bestimmt. Dazu wird die Methode der photographischen Äquidensitometrie verwendet.
## Abstract Durch Schrägbestrahlung und Verwendung charakteristischer Strahlung kann man eine einkristalline dünne Schicht einer röntgenographischen Orientierungsbestimmung auf einem Substrat zugänglich machen. Bei definierter Bewegung von Schicht und Zählrohr sind die entsprechenden Lauereflexe ge