Détermination du profil de concentration de la couche de transition des hétérostructures Ga1−xAlxAs/GaAs par rendement de photoémission X

✍ Scribed by A. Bouabellou; V.N. Schemelev; I.R. Taguirov

• Publisher: Elsevier Science
• Year: 1987
• Tongue: English
• Weight: 508 KB
• Volume: 155
• Category: Article
• ISSN: 0040-6090
• DOI: 10.1016/0040-6090(87)90072-1