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Détermination de l'épaisseur et de la concentration des couches minces épitaxiales Ga1−xAlxAs/GaAs par la méthode des sauts de la photoémission

✍ Scribed by A Bouabellou; V.N Schemelev; I.R Taguirov


Publisher
Elsevier Science
Year
1986
Tongue
English
Weight
501 KB
Volume
145
Category
Article
ISSN
0040-6090

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