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Die Bestimmung der Schichtdicke dünner Tantal-schichten auf zylindrischen Körpern

✍ Scribed by Eberhard Than; Hans-Jochen Eckert; Dieter Molch; Hartmut König

Publisher
Wiley (John Wiley & Sons)
Year
2010
Weight
221 KB
Volume
9
Category
Article
ISSN
0044-2402

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Eine Methode zur röntgenographischen Orientierungsbestimmung dünner einkristalliner Schichten auf einem Substrat, angewandt bei der Untersuchung von Tantal auf Saphir
✍ Dr. S. Meyer; Prof. Dr. habil. H. G. Schneider 📂 Article 📅 1973 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 287 KB

## Abstract Durch Schrägbestrahlung und Verwendung charakteristischer Strahlung kann man eine einkristalline dünne Schicht einer röntgenographischen Orientierungsbestimmung auf einem Substrat zugänglich machen. Bei definierter Bewegung von Schicht und Zählrohr sind die entsprechenden Lauereflexe ge