Characterizing single crystal surfaces using high resolution electron diffraction
โ Scribed by D. Thien; F.-J. Meyer zu Heringdorf; P. Kury; M. Horn-von Hoegen
- Book ID
- 105888813
- Publisher
- Springer
- Year
- 2004
- Tongue
- English
- Weight
- 468 KB
- Volume
- 379
- Category
- Article
- ISSN
- 1618-2650
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Annahme yon 10 freien s-und d-Elektronen hat dieses eine Energie yon 30,2 eV) durch die h6herliegenden Interbandiiberg/inge AEs, AEe, so erh/ilt man einen theoretischen Wert yon 25,5 eV. Ein/ihnliches Verhalten wurde auch schon an Gold gefunden, wo ebenfalls zwei Volumenplasmonen nachgewiesen wurden
Reflection electron microscopy (REM), reflection high energy electron diffraction (RHEED), reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS), and energy dispersion x-ray spectroscopy (EDX) have been comprehensively used as a technique, termed reflection high resolution analytical electron microsc