✦ LIBER ✦
Über den röntgenographischen Nachweis von Strukturdefekten in stark mit Antimon dotierten Siliziumeinkristallen mit Hilfe der Lang-Technik
✍ Scribed by U. Mohr
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1966
- Tongue
- English
- Weight
- 325 KB
- Volume
- 13
- Category
- Article
- ISSN
- 0370-1972
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