Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung
✍
Dipl.-Ing. H. Sommerfeldt; Dr. U. Mohr; Dipl.-Min. K. Jegerlehner
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Article
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1976
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John Wiley and Sons
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English
⚖ 484 KB
## Abstract Bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen tritt das Problem der Verkrümmung einkristalliner Scheiben auf, ein Ausdruck der im technologischen Prozeß mit jedem Bearbeitungsschritt zunehmenden Zerstörung der Kristallperfektion. Die Bestimmung der Verkrümmung kann folglich Aufschluß ü