Une modelisation Bayesienne du taux de defaillance en fiabilite : J. Ringler. Microelectron. Reliab.22 (3), 385 (1982) (in French)

• Publisher: Elsevier Science
• Year: 1983
• Tongue: English
• Weight: 252 KB
• Volume: 23
• Category: Article
• ISSN: 0026-2714
• DOI: 10.1016/0026-2714(83)91080-6