To the reliability of x-ray texture measurements: Important parameters, measuring strategies, scatter bands and comparative measurements with different systems
✍ Scribed by L. Lahn; H. P. Hougardy
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1999
- Tongue
- English
- Weight
- 217 KB
- Volume
- 30
- Category
- Article
- ISSN
- 0933-5137
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✦ Synopsis
The dependency of x-ray texture measurements from several important hardware parameters is shown. The consequences of different usual measuring strategies onto the resulting ODF are presented and the efficiency of the used correction method is investigated. A new 2-dimensional correction routine is developed as well as a new selfcorrection test for the quality judgement of the correction method. Scatter bands of one measurement, one goniometer system and in comparison of different goniometer systems are presented. Therefore comparative measurements of a textureless specimen and a specimen with a texture beneficial for deep drawing have been carried out at five different european laboratories. The results show, that some institutes work with correction methods that do not match to the used measuring strategy and that the comparison of measurements at different laboratories is very delicate due to the great differences in the determined textures.
In der vorliegenden Arbeit wird die Abha Èngigkeit der Ro Èntgentexturmessung von unterschiedlichen Hardware-Bedingungen gezeigt. Dabei werden die Auswirkungen verschiedener u Èblicher Meûstrategien auf die resultierende ODF gezeigt und die Wirksamkeit der verwendeten Korrekturmethode untersucht. Es wurde sowohl eine neue 2-dimensionale Meûwertkorrekturvariante, als auch ein Eigenkorrekturtest fu Èr die Qualita Ètsu Èberpru Èfung der jeweils eingesetzten Korrekturvariante entwickelt. Zudem werden die Streubreiten bei Messung einer einzelnen Probe, bei Messungen auf einem Goniometersystem und beim Vergleich verschiedener Goniometersysteme untereinander vorgestellt. Dazu wurden in fu Ènf verschiedenen europa Èischen Laboratorien vergleichende Messungen sowohl an einer texturlosen, als auch an einer {111}-orientierten Probe durchgefu Èhrt. Die Ergebnisse zeigen, daû einige Institute mit einer Meûwertkorrekturmethode arbeiten, die nicht zu der dort verwendeten Meûstrategie paût und daû der Vergleich von Messungen in verschiedenen Instituten aufgrund der starken Abweichungen der ermittelten Texturen voneinander sehr schwierig ist.