The CDF intermediate silicon layers detector

✍ Scribed by A. Affolder; P. Azzi-Bacchetta; N. Bacchetta; A. Barbaro-Galtieri; G. Barker; A. Basti; F. Bedeschi; D. Bisello; S. Blusk; W. C askey; G. Chiarelli; A. C onnolly; R. Demina; R. Ely; R. Field; M. Garcia-Sciveres; K. Giolo; D. Goldstein; J. Goldstein; G. Grim; M. Guerzoni; R. Haas; C. Haber; K. Hara; F. Hartmann; A. Heiss; C. Hill; M. Hrycyk; J. Incandela; Y. Kato; D. Knoblauch; M. Kruse; R. Lander; C. M. Lei; G. Leonardi; S. Leone; G. Martignon; Y. Miyazaky; A. Moggi; T. Muller; A. Munar; T. Okusawa; F. Palmonari; M. Paulini; D. Pellett; G. Piacentino; F. Raffaelli; F. Roederer; D. Saltzberg; M. Schilling; M. Shimojima; D. Stuart; T. Takano; K. Takikawa; M. Tanaka; P. Tipton; N. Turini; I. Volobouev; W. Yao; T. Yoshida; H. Wenzel; T. Wilkes; F. Zetti; S. Zucchelli

• Book ID: 113005311
• Publisher: Springer-Verlag
• Year: 1999
• Weight: 538 KB
• Volume: 112
• Category: Article
• ISSN: 0369-3546
• DOI: 10.1007/bf03185600