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Temperature oscillation at the growth interface in silicon crystals

✍ Scribed by Ekyo Kuroda

Publisher
Elsevier Science
Year
1983
Tongue
English
Weight
274 KB
Volume
61
Category
Article
ISSN
0022-0248

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## Abstract Nach dem Ausschalten der Erregerspannung, die an eine in Resonanz schwingende Quarzplatte gelegt war, wird das Abklingen des piezoelektrischen Stromes in Benzin und anderen Flüssigkeiten in Abhängigkeit von der Temperatur gemessen, um Viskositätsänderungen bei Ultraschall‐Frequenzen zu