Studies of Oriented Monolayers on Solid Surfaces by Ellipsometry

✍ Scribed by R. Steiger

• Publisher: John Wiley and Sons
• Year: 1971
• Tongue: German
• Weight: 837 KB
• Volume: 54
• Category: Article
• ISSN: 0018-019X
• DOI: 10.1002/hlca.19710540828

✦ Synopsis

Abstract

Zusammenfassung. Anhand ellipsometrischer Messungen an orientierten Monoschichten von Cd‐Arachidat, Perylen, Tripalmitin und Cyaninen auf aufgedampftem Gold oder auf reinen Silberbromideinkristallen wird gezeigt, dass damit Dicke und optische Konstanten solcher Monoschichten sehr genau bestimmt sowie Rückschlüsse über deren Stabilität (Kristallisation, Assoziationsverhalten, Reorientierung usw.) gezogen werden können.

Das abnormale Verhalten des komplexen Refraktionsindexes der ersten paar Monoschichten lässt auf die Gegenwart von absorbierenden Bereichen an der Grenze zwischen Substrat und Schichtsystem schliessen.