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Röntgenspektroskopische Untersuchung der Struktur des Valenzbandes von Silicium, Siliciumcarbid und Siliciumdioxid

✍ Scribed by G. Wiech

Publisher
Springer
Year
1967
Tongue
English
Weight
980 KB
Volume
207
Category
Article
ISSN
0939-7922

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## Gesamtenergien verschiedener Acryls&urekonformationen nach EHT-und CNDO/2-Methode a) Konformation EEHT in kcal/moi BcNDok2 in kml/mol 3a -12 324,Oi 36 -12322,94 3c -12324,17 3 1 -12 323,OO -38266,33 -38269,33 -38267,Zl -38270,?2 8) alle Berechnungen in der Originalparametrisierlln~ Tabelie 2 E