Röntgenographische und elektrische Untersuchungen des CuPt-Systems
✍ Scribed by J. O. Linde
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1937
- Tongue
- English
- Weight
- 763 KB
- Volume
- 422
- Category
- Article
- ISSN
- 0003-3804
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Deni System Si0,-V,O, koinmt schon allein aus den vielen Arbeiten uber den Korrosionsschutz ,,Vanal" (1) eine gewisse technisch-wissenschafiliche Bedeutung zu. Auch wurde in den letzten Jahren uber eine z. T. erfolgreiche Anwenduiig siliciumhaltiger organischer Verbindungen zur Bekampfung der Olasc