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Reflexionselektronenbeugungsuntersuchungen an HV-aufgedampften CdSe-Schichten auf CaF2

✍ Scribed by Dr. A. Messerschmidt


Publisher
John Wiley and Sons
Year
1972
Tongue
English
Weight
639 KB
Volume
7
Category
Article
ISSN
0232-1300

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✦ Synopsis


Reflexionselektronenbeugungsuntersuchungen an HV-aufgedampften CdSe-Schichten auf CaF,

Es wurden Reflexionselektronenbeugungsuntersuchungen an HV-aufgedampften CdSe-Schichten auf an Luft gespaltenen (111)-Fliichen von CaF, durchgefiihrt. Es treten nebeneinander die kubische (1 1 1)-Orientierung und die hexagonale (0001)-Orientierung auf. Bei niedrigen Substrattemperaturen (440 "C) dominiert die kubische Phase ; bei hoheren Substrattemperaturen (600 "C) herrscht die hexagonale Phase vor.

I n allen Schichten werden Zwillinge und Mehrfachzwillinge beobachtet. Entlang den (1 11)-Richtungen der Zwillinge bzw. Mehrfachzwillinge treten ebenfalls hexagonale Schichtenfolgen auf. Bei Zunahme der Schichtdicke geht die Anzahl der Mehrfachzwillinge zuriick. Starke Erhohung der Aufdampfrate (80 A -8 -l ) erhoht den Defektgehalt der Schichten (polykristalline Anteile). Es wird das Auftreten von Satellitenreflexen bei der Durchstrahlungselektronenbeugung und der Reflexionselektronenbeugung diskutiert.

Reflection electron diffraction investigations were performed with high vacuum deposited films of CdSe on to air cleaved (111) planes of CaF,. Together there occur the cubic (111) orientation and the hexagonal (0001) orientation. At lower substrate temperatures (440 "C) the cubic phase dominates. At higher substrate temperatlures (600 "C) the hexagonal phase is predominant.

Twins and multiple twins are observed in all films. Along the (111) directions of the twins and multiple twins, respectively, additionally there occur hexagonal stacking sequences. With increasing film thickness multiple twins become less frequently. A strong increasing of the deposition rate (80 -8-l) increases the content of defects in the films (polycrystalline fractions). The appearance of satellite spots in transmission electron diffraction patterns and in reflection electron diffraction patterns will be discussed.

Arbeiten von HOLLOWAY, WILKES (CdS), KALINKIN, SERGEYEVA e t al. (CdS, CdSe, ZnS, ZnSe, ZnTe), WILCOX, HOLT (CdS), DHERE, GOSWAMI (CdSe, CdTe),