Peak Position Determination of X-Ray Diffraction Profiles in Precision Lattice Parameter Measurements According to the Bond-Method with Help of the Polynomial Approximation
✍ Scribed by Dr. S. Grosswig; Dipl.-Phys. K.-H. Jäckel; Dr. R. Kittner
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1986
- Tongue
- English
- Weight
- 454 KB
- Volume
- 21
- Category
- Article
- ISSN
- 0232-1300
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✦ Synopsis
The possibilities and limits of the polynomial approximation for an accurate determination of the peak position of X-ray diffraction profiles in precision lattice parameter measurements according to the BOND-method are investigated. The use of a polynomial approximation with reciprocal measuring values leads to an improvement of the convergence properties of the approximation and allows to use polynomials with lower degree. A practicable criterion of the choise of optimum approximation parameters is given. It is shown that the accuracy of the determination of the peak position which is needed for precision lattice parameter measurements with an accuracy of about Ad/d % 10-7 is attainable under usual experimental conditions.
Es werden die Anwendungsmoglichkeiten und Grenzen der Polynomapproximation fur eine genaue Bestimmung der Peakposition von Rontgenbeugungsprofilen bei der Prazisionsgitterparametermessung nach der BOND-Methode untersucht. Die Verwendung der reziproken MeBwerte bei der Polynomapproximation fiihrt zu einer Verbesserung der Konvergenzeigenschaften der Approximation und gestattet die Verwendung von l'olynomen mit niedrigem Polynomgrad. Ein praktikables Kriterium zur Wahl optimaler Approximationsparameter wird gegeben. Es wird gezeigt, daB die Genauigkeit der Peakpositionsbestimmung, welche fur Prazisionsgitterparametermessungen einer Genauigkeit von Ad/d 10-7 benotigt wird, unter den ublichen experimentellen Redingungen erreicht werden kann.