Optische Nahfeldmikroskopie und -spektroskopie als Werkzeug in der chemischen Analytik
✍ Scribed by Renato Zenobi; Volker Deckert
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 2000
- Tongue
- English
- Weight
- 477 KB
- Volume
- 112
- Category
- Article
- ISSN
- 0044-8249
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✦ Synopsis
Ein groûer Durchbruch in den Oberflächenwissenschaften gelang mit der Entwicklung der Rastersondenmikroskopie, vorab der Rastertunnelmikroskopie (scanning tunneling microscopy, STM), die den Erfindern Heinrich Rohrer und Gerd Binnig den Nobelpreis in Physik im Jahr 1986 einbrachte. [1±3] Schon bald entwickelten sich daraus eine Vielzahl verwandter Methoden, die alle auf dem Verschieben einer scharfen Spitze gegenüber der Probenoberfläche durch Piezoelemente beruhen. Beispiele für solche abgeleiteten Techniken sind die Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM), die elektrochemische und die magnetische Rastermikroskopie. Pool hat dafür den Begriff ¹Kinder der STMª geprägt. [4] Von besonderem Interesse für die Anwendung in den molekularen Wissenschaften ist die optische Nahfeldmikroskopie (scanning near-field optical microscopy, SNOM), [5±8] gewissermaûen das ¹optischeª Kind der STM. Mit der optischen Nahfeldmikroskopie kann Licht auf einen Fleck von weniger als 100 nm Durchmesser konzentriert werden und sie ist somit eine vielversprechende Methode zur molekularen Analytik im Nanometerbereich. Betzig und Trautmann beanspruchten 1992 sogar für sich, eine örtliche Auflösung von 12 nm erreicht zu haben, [9] allerdings, wie sich herausstellte, erst nachdem die Gröûe der SNOM-Spitze aus den experimentellen Daten durch Dekonvolution ermittelt worden war. Eine ähnliche Auflösung konnte seither von anderen Forschungsgruppen nie erreicht werden. Das Be-[