Optimization of electric field distribution by free carrier injection in silicon detectors operated at low temperatures

✍ Scribed by Verbitskaya, E.; Abreu, A.; Bartsch, V.; Bell, W.; Berglund, P.; Bol, J.; de Boer, W.; Borer, K.; Buontempo, S.; Casagrande, L.; Chapuy, S.; Cindro, V.; D'Ambrosio, N.; Da Via, C.; Devine, S.R.H.; Dezillie, B.; Dierlamn, A.; Dimcovski, Z.; Eremin, V.; Esposito, A.; Granata, V.; Grigoriev, E.; Hauler, F.; Janos, S.; Jungermann, L.; Konorov, I.; Li, Z.; Lourenco, C.; Mikuz, M.; Niinikoski, T.O.; O'Shea, V.; Pagano, S.; Palmieri, V.G.; Paul, S.; Rato Mendes, P.; Ruggiero, G.; Schmitt, L.; Smith, K.; Sousa, P.; Zavrtanik, M.

• Book ID: 126614522
• Publisher: IEEE
• Year: 2002
• Tongue: English
• Weight: 255 KB
• Volume: 49
• Category: Article
• ISSN: 0018-9499
• DOI: 10.1109/TNS.2002.998650