✦ LIBER ✦
Oberflächenspezifische Analysenverfahren (AES/SAM, ESCA/XPS, SIMS) und ihr Einsatz zur Untersuchung von Verschleiß-Schutzschichten
✍ Scribed by Dr. H. Hantsche; Dr. K.-H. Habig
- Publisher
- John Wiley and Sons
- Year
- 1982
- Tongue
- English
- Weight
- 997 KB
- Volume
- 13
- Category
- Article
- ISSN
- 0933-5137
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✦ Synopsis
Abstract
Es werden die analytischen Möglichkeiten aufgezeigt, die sich ergeben, wenn man mehrere oberflächenspezifische Analysenverfahren, hier speziell AES/SAM, ESCA(XPS) und SIMS, zur Charakterisierung von Werkstoffoberflächen kombiniert einsetzen kann.
Die Grundprinzipien werden besprochen, die Vor‐ und Nachteile der Methoden miteinander verglichen – insbesondere in bezug auf die klassische Röntgen‐Mikroanalyse – und schließlich anhand von Beispielen aus dem tribologischen Bereich erläutert.