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Neue Entwicklungen bei der Abbildung und Analyse von Festkörper-Oberflächen

✍ Scribed by Prof. Dr. Hellmut Seiler


Publisher
John Wiley and Sons
Year
1974
Tongue
German
Weight
976 KB
Volume
46
Category
Article
ISSN
0009-286X

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✦ Synopsis


Abstract

In den letzten Jahren sind viele Verfahren für eine Analyse der chemischen Zusammensetzung und der Kristallstruktur von Festkörper‐Oberflächen entwickelt worden. Wenn die Oberflächen nicht homogen sind, reichen Analysen, die Mittelwerte über große Objektbereiche liefern, nicht aus. Man versucht daher, die Analyseverfahren mit einer hochvergröerten Abbildung der Oberfläche zu kombinieren, um Mikroanalysen, d. h. Analysen kleiner, definierter Objektbereiche zu ermöglichen. Das Prinzip der einzelnen Verfahren, ihre Leistungsfähigkeit und der derzeitige Stand der Entwicklung werden behandelt.


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