𝔖 Bobbio Scriptorium
✦   LIBER   ✦

Mikrobereichs- und Oberflächenanalyse in der Werkstoff-Forschung

✍ Scribed by Dr. H. J. Dudek


Publisher
John Wiley and Sons
Year
1987
Tongue
English
Weight
756 KB
Volume
18
Category
Article
ISSN
0933-5137

No coin nor oath required. For personal study only.

✦ Synopsis


Die Eignung und die Grenzen der Verfahren der Mikrobereichsund Oberflachenanalyse fur die Untersuchung von Werkstoffproblemen werden unter Anwendung von, der analytischen Chemie analogen, Kriterien diskutiert. In die Betrachtungen einbezogen werden die Elektronenstrahl-Mikroanalyse (ESMA), die Auger Elektronen Spektroskopie (AES), die Rontgenphotoelektronen Spektroskopie (XPS) sowie die Rontgen-Mikroanalyse (EDX) und die Elektronen-Energieverlust Spektroskopie (EELS) in der analytischen Transmissions-Elektronen-Mikroskopie (ATEM). Als Kriterien fur die Einsetzbarkeit dieser Verfahren in der Werkstoff-Forschung werden die allgemeine Anwendbarkeit, die Nachweisgrenze, die Reproduzierbarkeit , die quantitative Analyse, die Ortsauflosung und die bindungsspezifischen Informationen betrachtet.

1 Einleitung

Die Eignung der Verfahren der Mikrobereichs-und Oberflachenanalyse fiir die Losung von Werkstoffproblemen kann anhand einiger, der analytischen Chemie analogen, Kriterien beurteilt werden. Im folgenden werden diese Kriterien an einigen Beispielen, uberwiegend aus der Auger Elektronen Spektroskopie (AES, Auger electron spectroscopy) und unter Abgrenzung zur Elektronenstrahl-Mikroanalyse (ESMA), zur Rontgenphotoelektronen Spektroskopie ( X P S , X-ray photoelectron spectroscopy), zur Elektronen-Energieverlust Spektroskopie (EELS, electron energy loss spectroscopy) und zur energiedispersiven Rontgenmikroanalyse (EDX, energy dispersive X-ray microanalysis) in der analytischen Transmissions Elektronen Mikroskopie (ATEM) diskutiert.

2 lnformationsgewinnung 2.1 Prinzip

Bei der Ermittlung der chemischen Zusammensetzung und der Struktur der Werkstoffe im Mikrobereich wird stets nach dem gleichen Prinzip verfahren (Abb. I ) . Es wird eine Anregung, z.B. in Form einer elektromagnetischen Strahlung (Rontgenstrahlung, Licht) oder einer Korpuskularstrahlung (Elektronen, Ionen), auf das zu untersuchende Material gesendet. Die Strahlung tritt in Wechselwirkung mit den Bausteinen des Materials (Atome, Molekule, Kristallgitter). Als Folge dieser Wechselwirkung wird die Strahlung modifiziert. Die Bausteine des Materials werden in einen angeregten Zustand uberfiihrt. Ein Teil der Primarstrahlung ubertragt in einem inelastischen StreuprozeB Energie auf das Material, ein weiterer Teil andert in einer elastischen Streuung die Bewegungsrichtung. Die ubertragene Energie emittieren die


📜 SIMILAR VOLUMES


Oberflächenschutzverfahren und ihr Einsa
✍ Dr. G. Böhm 📂 Article 📅 1984 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 947 KB

Feinstrukturanalyse ( X I Magnatest X X + Uberwachung rnoglich, qualitative Aussage 0 nur ja-nein Ergebnis moglich, quantitative Aussage kein Ergebnis A sehr aufwendig Die zwei Methoden, die bis jetzt eine qualitative Aussage erlauben, Eigenspannungsmessung und Wohlerversuch, sind sehr aufwendig. Na

Zum Potentialverhalten der Oberfläche me
✍ F.-C. Althof; H. Buhl; H. Voigt 📂 Article 📅 1973 🏛 John Wiley and Sons 🌐 German ⚖ 895 KB

## Abstract Werden Flüssigkeiten in metallischen Bauteilen bewegt oder umgekehrt solche Bauteile in Flüssigkeiten, so können dabei sehr unterschiedliche Oberflächenbeanspruchung des Werkstoffes auftreten. Sie können mechanischer oder korrosiver Natur oder beides sein. Neben der Beschaffenheit der F

Eigenspannungen in der Oberfläche gas- u
✍ Dr.-Ing. M. Koch 📂 Article 📅 1973 🏛 John Wiley and Sons 🌐 English ⚖ 626 KB

## Abstract Es wird über röntgenographische Spannungsmessungen an den Stählen Ck 45, 34 Cr 4, 34 Cr Al 6 und Ck 15 berichtet. Zylindrische Proben aus den Vergütungsstählen wurden im Ammoniak‐Gasstrom und im Tenifer®‐Salzbad nitriert und der Verlauf der Eigenspannungen I. Art durch Abtragen und mehr