Abstract
In der vorliegenden Arbeit wird die mechanische Relaxation von Kupfer‐Einkristallen einheitlicher Orientierung im Übergangsgebiet Bereich I ‐ Bereich II und im Bereich II der Verfestigungskurve bei 77 und 293 °K untersucht. Die Messungen zeigen, daß die bei der mechanischen Relaxation gemessene zeitliche Änderung der Schubspannung im Gleitsystem \documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$ \frac{{da}}{{dt}} $\end{document} mit der beim Kriechen gemessenen zeitlichen Änderung der Abgleitgeschwindigkeit \documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$ \frac{{d\tau }}{{dt}} $\end{document} durch die Beziehung \documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$ \frac{{d\tau }}{{dt}} = \vartheta G\frac{{da}}{{dt}} $\end{document} verknüpft ist, wobei v~G~ der nicht durch thermisch aktivierte Prozesse verursachte Verfestigungskoeffizient ist. Daraus wird geschlossen, daß die mechanische Relaxation im Übergangsgebiet Bereich I ‐ Bereich II und im Bereich II (vermutlich aber auch im Bereich I) vom selben atomaren Prozeß wie das Kriechen herrührt.
Es läßt sich ferner zeigen, daß die Verfestigung der untersuchten Einkristalle überwiegend von nicht thermisch aktivierten Prozessen herrührt, d. h. daß v ≈ v~G~ ist.