Lochfraß an Kupferrohren und oberflächlicher Kohlenstoff: ESCA-Untersuchungen

✍ Scribed by P. Callot; A. Jaegle; A. Kalt; G. Nanse

• Publisher: John Wiley and Sons
• Year: 1978
• Tongue: German
• Weight: 433 KB
• Volume: 29
• Category: Article
• ISSN: 0947-5117
• DOI: 10.1002/maco.19780290805

✦ Synopsis

Abstract

Es wird gewöhnlich angenommen, daß Lochfraß vom Typ I mit der Anwesenheit eines Kohlenstoffilms an der Oberfläche von Kupfer verbunden sein kann.

Durch Röntgenpulveraufnahmen konnte im oberflächlichen Belag von geglühten Kupferrohren, die durch Lochfraß vom Typ I korrodiert waren, Malachit, Atakamit, Kupfer (I) Chlorid, Tenorit und Cuprit nachgewiesen werden.

Röntgeninduzierte Photoelektronenspektroskopie‐Untersuchungen und Ionen‐Beschuß haben bewiesen, daß Verbindungen, die Kupfer(II) enthalten, nur in den obersten Schichten vorliegen und daß der Belag hauptsächlich aus Cuprit besteht. Kohlenstoff ist zwar vorhanden, aber die Abtragung der äußeren Schichten durch Ionenbeschuß zeigt, daß Kohlenstoff nicht lediglich einen Film bildet, sondern in der ganzen Dicke des Oxidbelags verbreitet ist.