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Lebensdauer und Driftbeweglichkeit von Defektelektronen in AgBr-Kristallen bei Zimmertemperatur

✍ Scribed by U. Heukeroth; P. Süptitz

Publisher: John Wiley and Sons
Year: 1966
Tongue: English
Weight: 453 KB
Volume: 13
Category: Article
ISSN: 0370-1972
DOI: 10.1002/pssb.19660130132

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## Abstract Neue Experimente bestätigen die Annahme, daß die von Print‐out‐Silber freie Zone. die bei der Untersuchung der Elektroneneigenschaften in Silberbromidkristallen auftritt. durch Defektelektronen hervorgerufen wird. Die Zone tritt nicht auf, wenn die Defektelektronen an der Kristalloberfl