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Kristallographische Polarität von AIIIBV - Mischkristallen

✍ Scribed by Doz. Dr. W. Schmidt; B. Pilgermann; Dr. G. Kühn; Dr. P. Fischer

Publisher
John Wiley and Sons
Year
1973
Tongue
English
Weight
510 KB
Volume
8
Category
Article
ISSN
0232-1300

No coin nor oath required. For personal study only.

✦ Synopsis

Aus Messungen von Intensitiitsunterschieden der Rontgenreflexe an gegeniiberliegenden { 11 1)-Oberflhhen von aluminiumreichen Gal -,Al,As-und Gal -,Al,Sb-Mischkristallen wurde entschieden, welche der beiden OberflLchen mit einer Atomlage des fiinfwertigen Elements abschliel3t. Die Ergebnisse werden rnit Atzuntersuchungen korreliert.

From the measurement of X-ray intensity differences of opposite { 11 1)-surfaces in Gal-,Al,Asund Gal-,Al,Sb-mixed crystals with high Al concentration it was concluded which of the two surfaces is terminated by a layer of the group V atoms.

The results are correlated with etching studies.

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## Abstract Die bei der elastischen Streuung von 1,5 MeV‐Protonen an A^III^B^V^‐Mischkristallen erhaltenen Spektren wurden analysiert und auf diese Weise die Probenzusammensetzung bestimmt. Die Methode der Mikroanalyse mittels Rückstreuspektrometrie wird kurz erläutert und ihre Anwendung anhand zwe