Jahrbuch Oberflächentechnik 1980. Redakt
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Article
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1980
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John Wiley and Sons
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English
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pische und mit den Methoden der Raster-und Transmissionselektronenmikroskopiein manchen Fallen erganzt durch Mikrosondenanalysenerstellte photographische Aufnahmen. Die Zuordnung der einzelnen Bruchphanomene zwischen den einzelnen GroRendarstellungen wird nicht nur durch die sehr sorgfaltige Auswah