High-voltage breakdown studies on Si microstrip detectors

✍ Scribed by S. Albergo; M. M. Angarano; P. Azzi; E. Babucci; N. Bacchetta; A. Bader; G. Bagliesi; A. Basti; U. Biggeri; G. M. Bilei; D. Bisello; D. Boem i; F. Bosi; L. Borrello; C. Bozzi; S. Braibant; H. Breuker; M. Bruzzi; A. Buffini; S. Busoni; G. Calefato; A. Candelori; A. Caner; R. Castaldi; A. Castro; E. Catacchini; B. Checcucci; P. Ciampolini; C. Civinini; D. Creanza; R. D’Alessandro; M. Da Rold; N. Demaria; M. de Palm a; R. Dell’Orso; R. Della Marina; S. Dutta; C. Eklund; A. Elliott-Peisert; L. Feld; L. Fiore; E. Focardi; M. French; K. Freudenreich; A. Fürtjes; A. Giassi; M. Giorgi; A. Giraldo; B. Glessing; W. H. Gu; G. Hall; R. Hammerstrom; T. Hebbeker; J. Hrubec; M. Huhtinen; A. Kam insky; V. Karim aki; St. Koenig; M. Krammer; P. Lariccia; M. Lenzi; M. Loreti; K. Luebelsmeyer; W. Lustermann; P. Mättig; G. Maggi; M. Mannelli; G. Mantovani; A. Marchioro; C. Mariotti; G. Martignon; B. Mc Evoy; M. Meschini; A. Messineo; S. My; A. Paccagnella; F. Palla; D. Pandoulas; A. Papi; G. Parrini; D. Passeri; M. Pieri; S. Piperov; R. Potenza; V. Radicci; F. Raffaelli; M. Raymond; A. Santocchia; B. Schm itt; G. Selvaggi; L. Servoli; G. Sguazzoni; R. Siedling; L. Silvestris; K. Skog; A. Starodum ov; I. Stavitski; G. Stefanini; P. Tempesta; G. Tonelli; A. Tricom i; T. Tuuva; C. Vannini; P. G. Verdini; G. Viertel; Z. Xie; Li Yahong; S. Watts; B. Wittmer

• Book ID: 113005305
• Publisher: Springer-Verlag
• Year: 1999
• Weight: 595 KB
• Volume: 112
• Category: Article
• ISSN: 0369-3546
• DOI: 10.1007/bf03185593