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Grenzen von MOS-Speicherzellen

✍ Scribed by H. May; R. Kienzler

Publisher
Springer
Year
1981
Tongue
English
Weight
832 KB
Volume
63
Category
Article
ISSN
1432-0487

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sein, relativ exakt die Druckwerte an jedem Punkt des Reaktors und zu jedem Zeitpunkt anzugeben. Mit Hilfe dieser Ergebnisse kann dann fiir jeden Punkt des Reaktors die Wahrscheinlichkeit fur eine Bildung von Kavitationsblasen berechnet werden. Somit kann im Rahmen einer gewissen Genauigkeit vorausg