Earlier hypotheses for electrolytic breakdown mechanisms on Al, Ti and To are criticised in the light of further experiments . These included film temperature-rise measurements, furnace crystallization of films, transmission electron microscopy of films after breakdown and crystallization and multistage anodizing .
It is concluded that breakdown is controlled at the film/electrolyte-solution interface .
R6sum6-Critique des hypotheses anciennes sur les m6canismes de scissions electrolytiques sur Al, Ti et Ta, A la lumiIre des experiences ult6rieures . Celles-ci comportent des mesures d'616vation de la temperature des films, de ]cur cristallisation au four, de lour microscopic 6lectronique par transmission, apres decomposition, cristallisation ou anodisation par 6tapes successives .
On conclut que la scission est contr8l6e A 1'interface film/solution 6lectrolytique .
Zusammenfassung-Friihere Hypothesen fir elektrolytische Aufspaltungswirkungsweise auf Al, Ti and Ta warden im Lichte weiterer Experimente kritisiert . Zu diesen gehorten Filmtemperatur-Antiegmessungen, Ofenkristallisierung von Filmen, Durchlass-Elektronenmikroskopie von Filmen nach Aufspaltung and Kristallisierung and mehrstufiges Anodisieren . Man kommt zu dem Schluss, dasa Aufspaltung an der Film/Elektrolytenlosung Orenzilache geregelt wird .