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Etude par résonance paramagnétique électronique des radicaux piégés dans un monocristal de diméthylarsinate de sodium irradié aux rayons X

✍ Scribed by Michel Geoffroy; Antoine Llinares

Publisher
John Wiley and Sons
Year
1979
Tongue
German
Weight
447 KB
Volume
62
Category
Article
ISSN
0018-019X

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✦ Synopsis

E.S.R. study of radiation damage in a single crystal of sodium dimethyl arsonate

L'irradiation aux rayons X, à 77 K, d'un monocristal de diméthylarsinate de sodium provoque le piégeage de \documentclass{article}\pagestyle{empty}\begin{document}$ {\rm CH}_{\rm 3} \left({\rm O} \right){\rm As}\left({{\rm O}^ -} \right)\mathop {\rm C}\limits^ \cdot {\rm H}_{\rm 2} $\end{document} et de (CH~3~)~2~AsO^−^. En fonction de la température ces radicaux se réorientent ou donnent naissance à de nouvelles espèces radicalaires. Les tenseurs g et de couplage hyperfin avec ^75^As ont été déterminés à 105 K, 165 K, 215 K et 295 K et permettent de proposer une identification de plusieurs espèces radicalaires localisées sur l'atome d'arsenic. Le rǒle de la température d'irradiation et l'influence de l'oxygène sur la réactivité des radicaux piégés dans le cristal sont également étudiés.

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## Abstract The radical (ΦNH)~2~P· is trapped by annealing at 100°C an X‐irradiated single crystal of NN diphenyl phosphondiamide and has been studied by electron spin resonance. The isotropic and anisotropic ^31^P coupling constants are discussed. The principal values and direction cosines of the

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