Etude par microscopie electronique a balayage de l'endommagement par fatigue du cuivre apres implantation de divers elements (de He à Xe)

✍ Scribed by J. Mendez; P. Violan; C. Fayoux

• Publisher: Elsevier Science
• Year: 1983
• Weight: 741 KB
• Volume: 209-210
• Category: Article
• ISSN: 0167-5087
• DOI: 10.1016/0167-5087(83)90910-9